所有装置

XPS（JEOL）

表面の化学状態や組成を決めることができます。

 

FE-SEM（日立）

STEMモードでも観察可能。超高分解能ではありませんが，ナノ粒子の観察程度であれば問題なし。

XRD (Panalytical)

 

TGA-MS（リガク）

予備のGC-MSと連結しました。吸着分子や分解ガスの分析に便利。

触媒評価装置　BelCat II（マイクロトラックベル）

固体触媒のガス吸着解析等に使います。

顕微IR（島津）

リサイクル分取カラムクロマトグラフィー

アルゴン雰囲気グローブボックス（UNICO）

LC-MS (島津)

GC-MS（島津）

自動分取カラムシステム（山善）

 

Coming Soon

電子スピン共鳴（ＥＳＲ）装置

 

走査型プローブ顕微鏡

 

卓上型Ｘ線回折装置