所有装置 XPS(JEOL) 表面の化学状態や組成を決めることができます。 FE-SEM(日立) STEMモードでも観察可能。 卓上型X線回折装置 (Panalytical) TGA-MS(リガク) 予備のGC-MSと連結しました。吸着分子や分解ガスの分析に便利。 触媒評価装置 BelCat II(マイクロトラックベル) 固体触媒のガス吸着解析等に使います。 顕微IR(島津) リサイクル分取カラムクロマトグラフィー アルゴン雰囲気グローブボックス(UNICO) LC-MS (島津) GC-MS(島津) 自動分取カラムシステム(山善) 電子スピン共鳴(ESR)装置 走査型プローブ顕微鏡